彩色塗層板，用途廣泛（詳細用途請參考文末表格）。為了確保外觀塗層厚度和產品質量的一致性，必須進行塗層厚度檢測。以下內容詳細介紹了彩色塗層板厚度的檢測方法。參照文件《GB/T13448-2019》。

1 通則

1.1本方法適用於彩塗板塗層厚度的測定。

1.2可采用下列方法測定彩塗板塗層厚度：

a）磁性測厚儀法：適用於以冷軋板、鍍鋅板為基板的彩塗板塗層厚度的測定。若塗層厚度低於3um時則本方法不適用。若塗層為特殊不平整表麵效果則本方法不適用。

b）磁性-渦流測厚儀法：適用於各種材料為基板的彩塗板塗層厚度的測定。若塗層為特殊不平整表麵效果則本方法不適用。

2 原理

2.1磁性測厚儀法

利用電磁場磁阻原理，以流入彩塗基板的磁通量大小來測定塗層厚度。

2.2磁性-渦流測厚儀法

利用磁性-渦流複合探頭在鐵基體表麵產生的磁通量和在非磁性金屬鍍層表麵產生的渦流場變化，從而同時測定彩塗板鍍層和塗層厚度。

3 試驗裝置和材料

3.1磁性測厚儀

3.1.1儀器的最大示值誤差為士（1+3%標準片厚度）um。

3.1.2已知厚度的標準片（非磁性薄膜），其厚度應與被測塗層相近。

3.2磁性-渦流測厚儀

3.5.1儀器的最大示值誤差為士（1+3%標準片厚度）um。

3.5.2已知厚度的標準片（非磁性薄膜），其厚度應與被測塗層相近。

4 試樣製備和試驗環境

1試樣尺寸不小於75mm?50mm，試樣表麵應平整、無油汙、無損傷、邊緣無毛刺。

2試驗在試驗室環境下進行。如有爭議時，應將待測試樣在溫度為23℃?℃，相對濕度為50%

士5%的環境中至少放置24h後再進行試驗。

5 試驗步驟

5.1磁性測厚儀法

5.1.1儀器校準

5.1.1.1用與待測試樣化學成分和厚度相同的無塗層基板作為調零板，在其表麵幾個不同位置進行儀器調零。當基板為鍍鋅板時，應在去除鋅層的基板上調零，零位誤差不應大於1μm。

5.1.1.2選擇與被測塗層厚度相近的標準片校準儀器，使其準確指示出標準片的厚度。反複進行調零和校準的操作，直至獲得穩定的零位和標準片厚度讀數。

5.1.1.3在測量期間應經常進行儀器調零和校準的操作。

5.1.2 測定

5.1.2.1當彩塗板基板為冷軋板時，選取距試樣邊緣距離大於25mm的5個不同位置，用磁性測厚儀直接進行塗層厚度測量，並記錄厚度值。

5.1.2.2當彩塗板基板為鍍鋅板時，選取距試樣邊緣距離大於25mm的5個不同位置，用磁性測厚儀測量鍍鋅層和塗層的總厚度。用對鍍鋅層無腐蝕作用的脫漆劑將塗層去除，在同樣的地方測量鍍鋅層厚度（或用已知鋅層單位麵積重量換算成鋅層厚度），總厚度與鍍鋅層厚度之差即為塗層厚度。

5.2磁性-渦流測厚儀法

5.5.1 儀器校準和準確度驗證

5.5.1.1 可由設備供應商在設備出廠前采用厚度標準片進行校準；也可由設備使用者按照設備說明書的規定，采用厚度標準片進行儀器的校準。

5.5.1.2 采用厚度標準片或已知塗層厚度的自製標準樣板，對校準後的儀器進行準確度的驗證試驗。

驗證試驗的準確度和試驗頻度可根據實際需要製訂。製訂驗證試驗的準確度要求時，需同時考慮設備和標準片的準確度。采用本方法進行設備校準的厚度標準樣板的單位要求為微米（um），可采用附錄A的方法製作得到鍍層厚度標準樣板，並其將鍍層質量（g/m2）換算為厚度（um）。

5.5.2 測定

5.5.2.1 選取距試樣邊緣距離大於25mm的至少5個不同位置進行測量。為提高測定結果的代表性，可適當增加測量次數。

5.5.2.2 方法測定彩塗板塗層厚度的準確度會受到以下因素影響：

a）試樣的彎曲：應確保待測試樣平整無彎曲。

b）外來顆粒物：應確保試樣表麵和探頭表麵清潔，防止外來顆粒物影響試驗結果。

c）外部磁場：因磁性探頭測定結果會受到外部磁場的影響，因此應確保測定過程中無外部磁場的影響。

d）有金屬填充料的塗層：當彩塗板塗層中含有金屬填充料時，由於渦流場會受到金屬填充料的影響，因此測定結果會受到塗層中金屬填充物成分和含量的影響，測定時應考慮該影響。

e）基板的電性能：渦流探頭測定結果會受到基板導電性能的影響，設備應采用補償方式減少影響。

f）探頭壓力：磁性-渦流複合測頭測定時的壓力會影響測定結果，設備所帶探頭應有保持探頭壓力恒定的裝置，測定時應注意此影響。

6 結果的表示

6.1磁性測厚儀法

5個不同測量部位塗層厚度的算術平均值，即為該試樣的塗層厚度，以微米（um）表示。

6.2 磁性-渦流測厚儀法

在所測量麵上至少取5個不同測量部位的算術平均值，即為該試樣的塗層厚度，以微米（um）表示。

7 試驗報告

試驗報告應包括下列內容：

a）采用的試驗標準和協商條款；b）儀器型號；c）試樣信息；d）試驗結果；e）試驗日期和試驗人員。